突破產線測試瓶頸！FEINMETALL Progressive 系列探針
突破產線測試瓶頸！FEINMETALL Progressive 系列探針
無懼嚴苛條件的智慧解決方案
在電路板測試(ICT)及功能測試(FCT)的測試工作上，您是否常面臨以下「接觸困難」的痛點？
無鉛焊接與助焊劑殘留：無鉛焊料具腐蝕性且助焊劑黏稠，容易牢牢沾黏在探針上。
OSP（有機保焊膜）阻礙：比傳統塗層更硬，極易污染探針尖端並導致傳統鍍金層劣化。
嚴重污染與氧化：污染可能是灰塵、油漬或最具挑戰性的接觸問題來自於助焊劑、錫膏、黏合劑的殘留物以及氧化。
導通孔(Vias)測試受阻：標準探針無法順利穿透，阻礙電氣接觸。
面對這些嚴苛的測試條件，頻繁的停機換針與探針耗材成本是否讓您傷透腦筋？
測試治具的靈魂在於探針。德國FEINMETALL專為極端條件打造了「Progressive 系列」探針，解決了在最困難條件下的線上測試與功能測試中的接觸問題！
FEINMETALL Progressive 系列的三大核心武器：
極致穿透力的探針尖端 (Aggressive Probe Tip)
為了可靠地穿透嚴重污染和黏稠層，接觸探針必須具有高度侵略性（具備強大穿透力）的尖端，針對接觸條件困難的應用，FEINMETALL提供多種不同穿透力的尖端樣式。
革命性功能鍍層(Functional Coating) —壽命延長、硬度提升3倍
超越傳統鍍金的極限，採用FEINMETALL獨家開發的特殊合金與革新鍍層。
超低沾黏：大幅降低對助焊劑與污染物的敏感度。
極致耐磨：表面硬度比傳統鍍金高出3倍！顯著延長探針在惡劣環境下的使用壽命，替您省下龐大的耗材與停機成本。
傳輸確保：降低接觸阻抗，確保測試訊號穩定。
增加彈簧預壓，讓探針在接觸待測物 (DUT) 的瞬間，能立即產生更高的初始彈力來突破表面污染。同時，在額定行程下的「額定彈力」保持不變，待測物上的整體負載不會改變，做到有效穿透污染物。
告別誤判，迎接高效產能
導入 FEINMETALL Progressive 系列後，您將感受到：
✔️ 接觸誤判率大幅下降，測試良率顯著提升！
✔️ 探針清潔保養與更換頻率驟降，產線稼動率不再被「換針」拖垮！
✔️ 完美應對助焊劑、OSP 與複雜導通串透的嚴苛挑戰。
不要讓微小的探針，成為您產線上的最大變數。 選擇 FEINMETALL，用德國精工的智慧解決方案，為您的自動化測試提供最堅實的後盾！
渴望提升產線測試良率？ 立即與我們聯繫，我們將根據您特定的測試需求，為您挑選最佳的鍍層、尖端與彈力配置。歡迎索取 FEINMETALL Progressive 系列的詳細規格與免費技術諮詢！
